日期:2024-11-04 16:34:16 瀏覽量:909 作者:創(chuàng)芯在線檢測中心
綜上分析推測失效品因EOS/ESD導致die內部金屬層和絕緣層區(qū)域出現(xiàn)擊穿燒毀痕跡,從而引起短路失效。
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